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芯片制造是一項極其復雜且精密的過程,其中包含了五大關鍵工藝技術,分別是晶圓制備、氧化工藝、光刻蝕刻、摻雜工藝和薄膜工藝。以下是對這五大關鍵工藝技術的詳細介紹:
晶圓是集成電路的“畫布”,后續的半導體工藝都在這上面展開。晶圓制備主要包括以下步驟:
硅提煉及提純:大多數晶圓由從沙子中提取的硅制成。將沙石原料放入電弧熔爐中,還原成冶金級硅,再與氯化氫反應,生成硅烷,經過蒸餾和化學還原工藝,得到高純度的多晶硅。
單晶硅生長:將高純度的多晶硅放在石英坩堝中加熱熔化,把一顆籽晶浸入其中,由拉制棒帶著籽晶反方向旋轉并緩慢垂直地從硅熔化物中向上拉出,形成單晶硅晶棒,同時確定晶圓的尺寸。
晶圓加工:用金剛石鋸切掉鑄錠的兩端,切割成一定厚度的薄片,在薄片上加入“平坦區”或“凹痕”標記,通過研磨、化學刻蝕、拋光和清洗等工藝去除表面瑕疵和污染物,獲得表面整潔的成品晶圓。
氧化工藝在半導體制造中至關重要。在硅晶圓表面形成的薄薄的二氧化硅(SiO?)層具有多種作用:
作為絕緣層,阻止電路之間的漏電。
作為保護層,防止后續的離子注入和刻蝕過程對硅晶圓造成損傷。
作為掩膜層,定義電路圖案。
氧化工藝的實現方法有多種,最常用的熱氧化法又分為干法和濕法。干法只使用純氧,形成較薄、質量較好的氧化層,但生長速度較慢;濕法使用純氧和水蒸汽,形成較厚、密度較低的氧化層,但生長速度較快。
光刻是將掩模板上的圖形轉移到涂有光刻膠的晶圓片上的技術。光刻步驟主要包括:
設計電路并制作掩模板:通過通用計算機輔助設計(CAD)軟件完成,在完成電路設計正確性檢查(LVS)和設計規則檢查(DRC)后,將設計圖形轉移到掩模板上。掩模板由透明的超純石英玻璃基片制成,需透光的地方保持透明,需遮光的地方用金屬遮擋。
涂光刻膠:使晶圓對光敏感。光刻膠對光敏感,光照射后會產生化學變化,根據光照射與否,光刻膠形成溶解和不可溶解的部分。
曝光:將光源發出的光線經過掩模板照射到晶圓片上,掩模板上的圖形轉移到晶圓片上,光刻膠根據掩模板上圖形的不同溶解形成對應圖形。
顯影與堅膜:顯影后進行高溫烘培,使剩余的光刻膠變硬并提高粘附力。
經過光刻步驟后,所需要的圖案印在晶圓表面的光刻膠上。但要實現半導體器件的制作,還需要進行刻蝕,把半導體器件按照光刻膠的圖形復刻出來。
摻雜工藝是向半導體中引入特定雜質,以改變其電學性質。通過摻雜,可以控制半導體的導電類型(如P型或N型)和電導率。常見的摻雜方法包括離子注入和擴散等。
薄膜沉積是芯片前道制造的核心工藝之一。從芯片截取橫截面來看,芯片是由一層層納米級元件堆疊而成,薄膜沉積是在晶圓表面通過物理/化學方法交替堆疊絕緣介質薄膜(如SiO?、SiN等)和金屬導電膜(如Al、Cu等)。薄膜沉積工藝需要滿足不同薄膜性能要求,新材料出現或器件結構的改變要求不斷研發新的工藝或設備。
芯片封裝清洗介紹
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· 污染物有多種,可歸納為離子型和非離子型兩大類。離子型污染物接觸到環境中的濕氣,通電后發生電化學遷移,形成樹枝狀結構體,造成低電阻通路,破壞了電路板功能。非離子型污染物可穿透PC B 的絕緣層,在PCB板表層下生長枝晶。除了離子型和非離子型污染物,還有粒狀污染物,例如焊料球、焊料槽內的浮點、灰塵、塵埃等,這些污染物會導致焊點質量降低、焊接時焊點拉尖、產生氣孔、短路等等多種不良現象。
· 這么多污染物,到底哪些才是最備受關注的呢?助焊劑或錫膏普遍應用于回流焊和波峰焊工藝中,它們主要由溶劑、潤濕劑、樹脂、緩蝕劑和活化劑等多種成分,焊后必然存在熱改性生成物,這些物質在所有污染物中的占據主導,從產品失效情況來而言,焊后殘余物是影響產品質量最主要的影響因素,離子型殘留物易引起電遷移使絕緣電阻下降,松香樹脂殘留物易吸附灰塵或雜質引發接觸電阻增大,嚴重者導致開路失效,因此焊后必須進行嚴格的清洗,才能保障電路板的質量。
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以上就是芯片制造的五大關鍵工藝技術的介紹。這些工藝技術相互配合,共同實現了芯片的制造。